SUGA UGV-7 多角度光泽仪 内置黑光阱解决塑料薄膜光泽测试背景干扰难题

更新时间:2026-07-16 浏览次数:36次
塑料薄膜、光学涂层光泽检测长期存在行业共性痛点,依据 ASTM D2457 薄膜光泽测试规范,薄膜试样需展平固定后检测,但薄膜拉伸松紧、底部衬底材质极易造成数据波动。市面常规光泽仪测试透明薄膜时,普遍搭配黑色校准玻璃或普通黑绒布作为衬底,黑绒布吸光不均、黑玻璃存在底面反射,会引入 8~12GU 数据偏差,同批次薄膜更换衬垫、操作人员不同,检测数值无法统一,严重影响批次品质判定。

SUGA UGV-7 优势为一体式内置黑光阱光路结构,从源头消除透明薄膜透光带来的底层杂反射干扰,无需额外铺垫黑绒、黑玻璃衬底,薄膜无论绷紧程度高低、有无轻微波浪形变,底部透射光线会被黑光阱吸收,仅采集样品表面真实镜面反射光,很好匹配薄膜卷材、光学覆膜、PU 透明涂层标准化检测需求,大幅降低制样衬底带 来的系统误差,批次数据重复性大幅提升。

仪器搭载五角度同步检测功能,3 秒同步输出 20°/45°/60°/75°/85° 全套标准数据,适配高光亮膜、半哑光涂层、低雾哑光薄膜全品类。采用长效 VI-LED 光源,开机无需预热即测,高光泽样品自带自动增益,无需加装滤片;宽大平整样品台可直接放置整片卷材、大幅板材,无需裁切小样,还原成品真实表面状态。

整机契合 ASTM D523、GB/T9754、GB/T8803国内外检测标准,3.5 英寸触控屏支持千组数据存储、自动统计均值标准差,USB 导出数据方便建立工艺档案。针对薄膜量产 QC、涂层配方研发场景,黑光阱设计是区别于普通机型的关键亮点,解决透明材料背景干扰难题,实现长期稳定、可复现的光泽数字化管控。


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