更新时间:2026-07-16
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SUGA UGV-7 优势为一体式内置黑光阱光路结构,从源头消除透明薄膜透光带来的底层杂反射干扰,无需额外铺垫黑绒、黑玻璃衬底,薄膜无论绷紧程度高低、有无轻微波浪形变,底部透射光线会被黑光阱吸收,仅采集样品表面真实镜面反射光,很好匹配薄膜卷材、光学覆膜、PU 透明涂层标准化检测需求,大幅降低制样衬底带 来的系统误差,批次数据重复性大幅提升。
仪器搭载五角度同步检测功能,3 秒同步输出 20°/45°/60°/75°/85° 全套标准数据,适配高光亮膜、半哑光涂层、低雾哑光薄膜全品类。采用长效 VI-LED 光源,开机无需预热即测,高光泽样品自带自动增益,无需加装滤片;宽大平整样品台可直接放置整片卷材、大幅板材,无需裁切小样,还原成品真实表面状态。
整机契合 ASTM D523、GB/T9754、GB/T8803国内外检测标准,3.5 英寸触控屏支持千组数据存储、自动统计均值标准差,USB 导出数据方便建立工艺档案。针对薄膜量产 QC、涂层配方研发场景,黑光阱设计是区别于普通机型的关键亮点,解决透明材料背景干扰难题,实现长期稳定、可复现的光泽数字化管控。
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