咨询热线

13501809436

当前位置:首页  >  技术文章

  • 2025

    12-19

    光量(上海)国际贸易有限公司作为Suga株式会社光学产品的中国总代理,向市场郑重推荐SugaHZ-V3/V4透光率仪/雾度仪。该仪器严格遵循国际标准ISO13468.1及新国标GB/T46828.1-2025,精准测定透明材料的总透光率。同时,其雾度测试功能全面满足ISO14782、ASTMD1003与GB/T2410的要求。因其准确性与可靠性,该仪器被多项国际标准引用,是塑料、玻璃、薄膜等行业进行光学性能检测的值得信赖的工具,为质量控制与研发提供坚实数据支撑。光量上海公司推...

  • 2025

    12-16

    SUGAHZ-V4是一款用于测量材料雾度和透光率的精密仪器。一、核心特点与规格1.核心指标:其雾度和透光率的测量重复精度均达到0.02%,保证了测量结果的高度一致性。2.关键技术:它采用双光束结构设计,能实时监测并补偿光源能量的变化,使测量数据更稳定。3.符合标准:仪器满足主流的ASTMD1003和ISO雾度测量标准,适用于全球不同地区的客户要求。4.应用领域:广泛用于树脂塑料、汽车玻璃、光学薄膜等行业的质量控制。二、操作与数据管理·操作便捷性:仪器配备大尺寸触摸屏,可选择竖...

  • 2025

    12-15

    提高测量精度是任何实验室或工业环境中至关重要的一个方面,尤其是在使用清晰度仪等光学测量设备时。它主要用于测量液体或气体样品的透明度和浊度,其测量精度直接影响到数据的可靠性和后续的决策。因此,对其进行定期校准与维护显得尤为重要。一、校准的重要性校准是确保测量设备准确性和可靠性的过程。对于清晰度仪来说,它通常涉及与已知标准进行比较,以确定仪器的读数是否在可接受范围内。校准的频率通常取决于设备的使用频率、环境条件以及所测量介质的特性。一般建议每月或在每次使用前进行校准,特别是在关键...

  • 2025

    12-2

    一、标准板的作用与要求在SUGAHZ-V3/V4雾度仪的使用中,用户通常使用标准板进行仪器校准。·核心功能:校准仪器,确保测量结果精准、可溯源至国家/国际标准。·来源与精度:标准板随主机配备,具有严格的计量溯源性(如NPL)。·使用场景:需定期(如每日开机时)进行仪器校准。·维护要求:标准板维护要求高,需避免污染、刮擦,清洁时需使用专用镜头纸。二、正确校准步骤正确的校准是获得可靠数据的基础,主要分为两步:1.空气校准·目的:在不放置任何样品的情况下,将仪器基准点设置为"雾度=...

  • 2025

    11-14

    日本SUGAUGV-7光泽度仪是一种用于测量材料表面镜面反射能力的精密光学仪器,广泛应用于多个行业。SUGA光泽度仪基于镜面反射原理,通过测量样品表面反射光的光强来计算光泽度值(以GU为单位)。一、SUGAUGV-7光泽度仪的测量方法1.关键测量步骤开机与准备:UGV-7采用LED光源,无需像旧款卤钨灯那样等待预热,开机后可以立即进行测量。仪器校准:使用仪器配套的标准板进行校准是确保测量准确的关键步骤。放置样品:将仪器放置在待测物体表面。UGV-7配备了平面样品台,可以稳定地...

  • 2025

    11-3

    实现低浓度臭氧的长期稳定需从生成控制、环境调节、设备优化及安全防护四方面综合施策,以下为关键技术与解决方案:1.生成控制技术:精准调节臭氧产量采用电晕放电法臭氧发生器时,需配备高精度质量流量计与PID调节算法,实现臭氧产量的实时反馈控制。例如,实验室级设备通过调节功率或进气量(气量越大浓度越低)稳定输出,若进气受限则采用稀释法。工业场景中,可选用具备浓度调节旋钮的设备,或通过更换低浓度臭氧发生器满足需求。2.环境调节技术:抑制臭氧分解与生成臭氧稳定性受温度、湿度及光照影响显著...

  • 2025

    10-20

    日本SUGASC-P45黄色指数仪/色度仪是一款在工业颜色质检领域表现突出的设备,它的核心优势在于其专业的标准符合性、精准稳定的测量性能、广泛的样品适应性以及便捷高效的操作体验。核心优势总结如下:优势领域具体说明标准与认证同时满足美国ASTMD6290与中国GB/T2409(即HG/T3862)标准,具备国标/美标双认证,报告具有国际公信力。精度与稳定性测量重复性高(ΔE*ab标准偏差小于0.02),能持续稳定工作。采用256组C-Mos感光元件,在全波长范围内快速同步测光,...

  • 2025

    10-10

    台式反射率计凭借其高精度、多波段和非破坏性测量优势,已成为纳米薄膜与功能性涂层研究中的核心工具。在纳米薄膜领域,其通过光谱反射率分析实现关键参数的快速表征。例如,FilmetricsF-20光学反射计可在380nm-1050nm波段内测量薄至15nm的薄膜,厚度精度达1nm或0.2%,广泛应用于氮化硅、光刻胶等半导体薄膜的厚度与折射率检测。结合拉曼光谱与X射线光电子能谱(XPS),研究人员可进一步解析薄膜的分子结构、化学成分及应力分布,为钙钛矿太阳能电池、量子点显示器等新型器...

共 465 条记录,当前 1 / 59 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页