Suga多角度光泽仪应对透射光造成的背景干扰

           用 Suga 多角度光泽仪测量透明材料，关键点在于应对透射光造成的背景干扰。Suga 机型UGV-7针对这一痛点做了专门设计，让透明材料的测量流程比传统方法简化了很多。

一、核心优势：内置“黑光阱"取代外部黑衬底

传统测量透明材料时，需要在背面垫黑绒布或黑玻璃，但这些衬底本身吸光不均或存在底面反射，可能引入 8~12 GU 的数据偏差。

Suga UGV-7 的核心在于一体式内置黑光阱光路结构。它从仪器内部直接吸收穿透样品的透射光，无需再额外铺垫任何黑色衬底。这样只采集样品表面真实的镜面反射光，大幅降低了因制样衬底带来的系统误差，批次重复性更好。即使薄膜有轻微波浪形变或绷紧程度不一，底部透射光也会被黑光阱吸收，不影响读数。

二、角度选择：一次测量，数据全有

UGV-7 支持 20°/45°/60°/75°/85° 五个角度的同步测量，3 秒内可输出全套数据。这省去了手动切换角度的步骤，尤其适合需要全面评估高光、中光、哑光特性的场景。

（一）常规 QC 选 60°

作为通用角度，适合快速判断中等光泽水平。

（二）高光泽材料看 20°

对光学膜等高亮表面，20° 有更高的分辨力。UGV-7 也自带高光泽自动增益，测量 Gs 200 以上的样品无需加滤片。

（三）低光泽/哑光看 85°

能更好地捕捉哑光涂层等表面的细微差异。

2